公司新聞|2021-10-13|admin
ICT檢測(cè)設(shè)備,這類設(shè)備在較大的OEM電子工廠中相當(dāng)常見,而這類設(shè)備通常是用電腦端的上位機(jī)界面來完成的,如開始菜單、停止菜單、檢查測(cè)試結(jié)果和日志等。
負(fù)壓測(cè)試,即通過“吸”治具后,即在負(fù)壓下,通過支撐彈簧將支撐板的側(cè)面(帶有板的卡槽)向下吸,然后將測(cè)試頂針向上推。頂針上推后,接觸板的測(cè)試點(diǎn),停止測(cè)試。電路板的測(cè)試點(diǎn)和頂針一一對(duì)應(yīng)。
ict夾具打開后,紅框中有許多針孔。這個(gè)針孔是為了保證負(fù)壓吸下中間承載板后,測(cè)試頂針能上來。當(dāng)然,跳汰機(jī)的背面還有一些接口,比如氣管的接口,通訊線與上位機(jī)的接口。
ict測(cè)試的項(xiàng)目很多,不同的板有不同的測(cè)試內(nèi)容。相同的點(diǎn)是以下三個(gè)測(cè)試項(xiàng)目,將涵蓋在所有板測(cè)試中,但I(xiàn)CT將包括以下三個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。
1:開路測(cè)試是測(cè)量被測(cè)電路板上有“預(yù)期短路”的元器件,是否會(huì)因零件錯(cuò)誤或缺件而形成開路。
2.短路測(cè)試是測(cè)試被測(cè)電路板上的意外短路現(xiàn)象。
3.缺陷分析3:制造缺陷分析,測(cè)量電阻、電容和電感等無源元件。