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常見(jiàn)的印刷電路板測(cè)試問(wèn)題

公司新聞|2022-03-31|admin


從[敏感詞]的視頻游戲到高性能飛機(jī),幾乎在投入使用之前測(cè)試的一切都是制造的。測(cè)試將根據(jù)產(chǎn)品的內(nèi)容和可衡量的結(jié)果而有所不同。通常,將運(yùn)行某種類(lèi)型的測(cè)試以驗(yàn)證產(chǎn)品按設(shè)計(jì)執(zhí)行的能力。 PCB制造商還在從組裝廠發(fā)貨前電路板測(cè)試。

制造商電路板測(cè)試組件以驗(yàn)證裝配過(guò)程,并驗(yàn)證其功能是否設(shè)計(jì)。 PCB合同制造商可以運(yùn)行不同的測(cè)試,但有時(shí)他們測(cè)試完整板的能力是通過(guò)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或其他問(wèn)題阻礙的。在這里,我們將研究一些常見(jiàn)的印刷電路板測(cè)試問(wèn)題,以及如何避免使用良好的PCB設(shè)計(jì)和布局策略。

電路板測(cè)試的重要性

雖然自動(dòng)PCB裝配過(guò)程通常可以在不疑慮的情況下創(chuàng)建板,但總是有焊接缺陷或其他問(wèn)題的可能性。為防止這一點(diǎn),合同PCB制造商將使用檢查和測(cè)試過(guò)程的組合來(lái)驗(yàn)證組裝板。

電路板檢查

電路板組件中的焊料缺陷可包括網(wǎng)之間的短路,焊點(diǎn)不良或焊料不足。很多次,這些問(wèn)題可以通過(guò)各種檢測(cè)技術(shù)來(lái)檢測(cè),從技術(shù)人員手動(dòng)檢查開(kāi)始。但是,對(duì)于仔細(xì)檢查,PCB制造商將使用自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)設(shè)備(AOI)。這些系統(tǒng)使用高功率光學(xué)器件掃描電路板,并將結(jié)果與已知的好板進(jìn)行比較。 AOI系統(tǒng)用于預(yù)裝焊膏檢查,焊接接頭檢查,并驗(yàn)證電路板上是否安裝了正確的部件。制造商將使用X射線系統(tǒng)對(duì)這些組件(例如大BGA零件)的更詳細(xì)的檢查進(jìn)行,其中具有隱藏在它們下方的焊點(diǎn)。裝配驗(yàn)證

制造商將使用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)證組裝電路板,包括電路測(cè)試(ICT),飛行探頭和電纜掃描。 ICT和飛行探頭測(cè)試依賴(lài)于觸摸電路板上的小型測(cè)試點(diǎn)的探針提示,以測(cè)試電路板上的每個(gè)網(wǎng)。 ICT系統(tǒng)使用測(cè)試夾具與測(cè)試探針同時(shí)在電路板上快速測(cè)試每個(gè)測(cè)試點(diǎn)。飛行探頭系統(tǒng)在板周?chē)倏v少量探針以單獨(dú)測(cè)試每個(gè)測(cè)試點(diǎn)。電纜掃描[敏感詞]電路板的所有連接器以通過(guò)它們的連接測(cè)試網(wǎng)絡(luò)。

功能測(cè)試

除裝配驗(yàn)證測(cè)試外,PCB制造商還可以對(duì)板進(jìn)行功能測(cè)試。功能測(cè)試旨在模擬電源啟動(dòng)時(shí)的操作行為,使測(cè)試操作員能夠確定是否正確制造到其規(guī)格。但是,如果沒(méi)有正確的可測(cè)試性的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試過(guò)程可能會(huì)遇到一些大問(wèn)題,我們將討論下一步。

測(cè)試期間六個(gè)常見(jiàn)的印刷電路板問(wèn)題

這六個(gè)問(wèn)題可能會(huì)破壞板測(cè)試,可以通過(guò)遵循良好的測(cè)試(DFT)過(guò)程來(lái)避免:

缺乏測(cè)試策略:為了使制造商能夠充分測(cè)試板,需要做好準(zhǔn)備的測(cè)試策略。這意味著不僅為董事會(huì)提供功能測(cè)試規(guī)范,還提供完整的文檔包。文檔應(yīng)包括該設(shè)計(jì)的原理圖,藝術(shù)品文件,材料清單和網(wǎng)表文件。

測(cè)試點(diǎn)覆蓋不足:電路板必須為ICT或飛行探頭測(cè)試具有完整的測(cè)試點(diǎn)覆蓋,這意味著每個(gè)活動(dòng)網(wǎng)必須連接到測(cè)試點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)可以是專(zhuān)用設(shè)計(jì)對(duì)象,如表面安裝焊盤(pán),或者可以將測(cè)試點(diǎn)分配給現(xiàn)有的通孔引腳或通孔。

測(cè)試點(diǎn)的間距不足:訪問(wèn)每個(gè)必須以足夠的間距放置自動(dòng)測(cè)試探針的測(cè)試點(diǎn)。 50密耳通常用于測(cè)試點(diǎn)和其他設(shè)計(jì)物體之間的間隙,例如組件輪廓或墊,而100密耳用于測(cè)試點(diǎn)和板邊緣之間的間隙。

手動(dòng)測(cè)試不可用的探測(cè)點(diǎn):手動(dòng)測(cè)試用于調(diào)試或功能測(cè)試的網(wǎng)絡(luò)需要技術(shù)人員訪問(wèn)的探測(cè)點(diǎn)。這些探測(cè)點(diǎn)通常是比測(cè)試點(diǎn)所需的焊盤(pán)或孔,并且在某些情況下,[敏感詞]短銷(xiāo)以用于鉗位探頭。應(yīng)在絲網(wǎng)上清楚地標(biāo)記探頭點(diǎn),網(wǎng)格表示它們代表并提供足夠的間隙以便于進(jìn)入。

測(cè)試夾具的缺失或不正確或過(guò)時(shí)的版本:ICT需要一個(gè)可能昂貴的測(cè)試夾具來(lái)構(gòu)建或修改。雖然快速測(cè)試數(shù)千種生產(chǎn)板的能力認(rèn)證成本,但有限運(yùn)行的新燈具將減緩測(cè)試時(shí)間,同時(shí)增加成本。更改現(xiàn)有的測(cè)試夾具以制造板的變化也可能是昂貴的,并且需要仔細(xì)稱(chēng)重這些變化,以防止修改夾具。對(duì)于低批量生產(chǎn)或原型設(shè)計(jì),不同的測(cè)試程序通常是更好的選擇。

過(guò)時(shí)的組件:使用舊組件可能導(dǎo)致測(cè)試工程師在電路板上執(zhí)行功能測(cè)試的問(wèn)題。組件可能不會(huì)產(chǎn)生預(yù)期的結(jié)果,使得驗(yàn)證董事會(huì)符合其規(guī)格更難。在這種情況下,更好的解決方案是使用PCB合同制造商來(lái)查找更新的組件或電路更改。您的PCB CM可以幫助您提出許多設(shè)計(jì)決策,以支持良好的PCB測(cè)試策略。

通過(guò)PCB設(shè)計(jì)獲取額外的測(cè)試幫助

與您的制造商合作,開(kāi)發(fā)良好的測(cè)試策略,避免上面列出的策略這個(gè)問(wèn)題總是一個(gè)好主意。他們將能夠就測(cè)試點(diǎn)的[敏感詞] PCB 間距和放置規(guī)則為您提供建議,并為您篩選舊零件和過(guò)時(shí)零件的材料清單。電路板的大批量生產(chǎn)對(duì)您的制造商和您一樣重要,他們非常積極地幫助您的設(shè)計(jì)取得成功。

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