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ICTテスト機器も靜的テスト（電源なし）であり、ICTテスト機器はPCB回路を検出でき、ICTテスト機器はPCBAアセンブリプロセスのさまざまな欠陥や障害を効果的に検出できますが、回路基板全體を評価することはできません。 。クロック速度での構(gòu)成システムのパフォーマンス。機能テストでは、システム全體が設(shè)計目標(biāo)を達成できるかどうかをテストできます?；芈坊迳悉违匹攻葘澫螗妤衰氓趣驒C能ボディとして受け取り、機能ボディの設(shè)計要件に従って入力信號を提供し、出力信號を検出します。

   ICTテスト機器は、回路基板が設(shè)計要件に従って適切に機能することを確認(rèn)するためのものです。したがって、機能テストのより簡単な方法は、組み立てられた電子デバイスの最初の回路基板をデバイスの適切な回路に接続してから、電圧を印加することです。

   機器が正常に動作している場合は、回路基板が認(rèn)定されていることを意味します。この方法は単純で、投資も少なくて済みます。これが、PCBのICTテストの後にFUNCTIONテストステーションが追加される主な理由です。どのテストモデルでも100％の完全なテストを達成することは不可能です。ICTとFCTテストステーションを組み合わせたテストソリューションのみが比較できます。欠陥大部分が検出されます。