亚洲日本一区二区三区高清,亚洲国产成人精品青青草原,久久99精品国产国产精品,亚洲日韩看片无码AV

情報(bào)
News information
情報(bào)
協(xié)立商貿(mào)易(深圳)有限公司
業(yè)界ニュース
PCBA組裝電路板測試發(fā)展趨勢

業(yè)界ニュース|2023-06-02|admin

PCBA組裝電路板測試發(fā)展趨勢

20世紀(jì)90年代初,電子電路板從最初的工業(yè)和軍事應(yīng)用迅速發(fā)展到消費(fèi)電子產(chǎn)品。經(jīng)過大約30年的發(fā)展,只能說是日新月異,總結(jié)歷史,展望未來的發(fā)展趨勢

 1、過去30年電子產(chǎn)品的主要趨勢是:?? 1.從插件組件到芯片組件,

 2.從分立組件到集成IC,

3.從模擬電路到數(shù)字電路,

4.從固定電路到基于MCU的靈活控制邏輯。在這30年里,一體化程度取得了巨大進(jìn)步。隨著工業(yè)化進(jìn)程的推進(jìn),這是電子產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的黃金時期。生命、工業(yè)和國防的電子化進(jìn)程從無到有??傊袊母母镩_放和世界電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展的黃金時期,使每個人的工作和生活方式都發(fā)生了質(zhì)的變化,創(chuàng)造了許多從事電子產(chǎn)業(yè)的大公司

 

中國的許多人也從中受益匪淺

 2、未來電子產(chǎn)品的趨勢

1。集成度的進(jìn)一步發(fā)展,集成電路越來越強(qiáng)大的功能,以及分立元件正在慢慢消失(電容式功率器件除外)

2。大力發(fā)展智力。所有電路均配備MCU,

3。小型化和模塊化開發(fā)。未來電子產(chǎn)品將無處不在。目前,[敏感詞]的障礙是小型化還不夠。大力發(fā)展低功耗,功耗便攜化、小型化*大敵,還有很大的發(fā)展空間

5。我們應(yīng)該朝著更穩(wěn)定耐用、防水、防震、耐高低溫的方向發(fā)展。每個產(chǎn)品都是一個龐大的系統(tǒng)、軟件、下位機(jī)、硬件等,這不再是過去任何人都可以設(shè)計(jì)電子產(chǎn)品的廣泛時代。隨著小型化、集成化和智能化的不斷增強(qiáng),電子線路板生產(chǎn)廠家的設(shè)備投資不斷增加,生產(chǎn)和測試方法不再允許人工干預(yù)。都需要使用高精度設(shè)備,提高生產(chǎn)門檻

 
智能化不可能是盲目的,因此仍然有很多方法來顯示傳感器的形式和類型,還有很大的發(fā)展空間,使智能化成為一個[敏感詞]的閉環(huán)

 
總之,以下電子產(chǎn)品不再是一個從無到有的過程,而是從更智能、更耐用和更好的客戶體驗(yàn)。他們已經(jīng)度過了快速發(fā)展的時期,并在深水中變得成熟?,F(xiàn)在已不再是[敏感詞]電子的時代。在這個過程中,無數(shù)小公司將倒閉,一些[敏感詞]的公司將涌現(xiàn)

 

目前,PCBA的測試方法包括

 1、錫膏測試儀(SPI)

 2、光學(xué)測試儀(AOI)

 3、在線測試儀(MDA/ICT)

 4、功能測試儀(FCT/ft/ate)

 5、透視測試儀(X射線)

 6、極限測試儀(如振動、濕度、溫度等)

7、,老化測試儀(穩(wěn)定性測試性能)

在插件時代,經(jīng)常使用ICT和FCT測試儀,隨著過去兩年SMD組件的增加,光學(xué)測試機(jī)(AOI)被廣泛使用。現(xiàn)在集成電路是BGA,并且越來越小,所以錫膏印刷質(zhì)量非常重要。因此,SPI逐漸受到重視,并被認(rèn)為在未來幾年將像AOI一樣被廣泛使用。集成度、模塊化和小型化?? AOI已無法檢測,因此X射線可能在未來幾年從實(shí)驗(yàn)室設(shè)備轉(zhuǎn)移到生產(chǎn)線大規(guī)模生產(chǎn)設(shè)備

 

電子電路板測試方法的未來趨勢

1。通信it/便攜式設(shè)備將標(biāo)記SPI+(X射線)+(ICT/FCT)。注:ICT定義為

2,歐美功能測試,電源和控制板:AOI+ICT+FCT+老化測試

3。生產(chǎn)設(shè)備的產(chǎn)量現(xiàn)在很高,將來還會更高。生產(chǎn)函數(shù)

4增加了檢測函數(shù)。未來,整個生產(chǎn)線的所有設(shè)備將成為一個整體,通過管理系統(tǒng),它將成為一個智能閉環(huán)

5。不良檢測的想法慢慢轉(zhuǎn)變?yōu)椴涣嫉念A(yù)防性檢測,例如SPI設(shè)備

6。經(jīng)過高度集成后,電氣測試設(shè)備重新成為關(guān)注的焦點(diǎn),但它與傳統(tǒng)的電氣測試方法有很大不同。通過JTAG的測試將上升,如邊界掃描和JTAG功能測試,在功能測試方面,通過軟件控制

 7與被測產(chǎn)品的MCU通信的測試模式下進(jìn)入功能測試。隨著*技術(shù)的發(fā)展,每個功能模塊可能由一個IC和幾個外圍電路組成。為了減少體積,我們都在大面積使用更小的BGA封裝。因此,SPI和X射線很受歡迎。一個是預(yù)防,另一個是檢查。

8之后,生產(chǎn)設(shè)備*還將配備檢測功能。檢查設(shè)備的所有生產(chǎn)零件

9。軟件測試和軟件算法測試也將大力發(fā)展

10。集成測試和自動化測試已經(jīng)取得了實(shí)質(zhì)性進(jìn)展并逐漸成熟

以上只是個人觀點(diǎn)。有很多錯誤。請改正。它們只是為了拋磚引玉。

関連する提案続きを見る+
TEL:0755-8292-5950
電話(+86)158‐1860‐9324
E-mail:qian@testsystem.co.jp
E-mail:kyoritsu_hy@126.com
住所:10C、シェンマオコマーシャルセンター、ニュースロード、フーティアン地區(qū)、深セン
版權(quán)所有:協(xié)立商貿(mào)易(深圳)有限公司  サイトマップ
當(dāng)社は自動ITCおよびFCT試験裝置のメーカーです。設(shè)計(jì)と製造、サプライヤー、価格、および金額については、お問い合わせください。