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業(yè)界ニュース
Xie Li ICT testing equipment

業(yè)界ニュース|2022-04-06|admin

  ICT檢測設(shè)備,這種設(shè)備在較大的代工電子廠中比較常見,這種設(shè)備通常在電腦端與上位機接口完成,例如有開始菜單、停止菜單、查看測試結(jié)果和日志等等。


  負壓測試,即夾具中支撐板(帶板槽)的一側(cè)經(jīng)過“吸氣”,負壓后通過支撐彈簧吸下,然后測試頂針上來,頂針上來后,與板子的測試點接觸,停止測試。板子的測試點和頂針一一對應(yīng)。


  ict治具打開后的內(nèi)部圖,紅框部分有密密麻麻的針孔。這個針孔是為了保證在負壓把中間的載板吸下來后,測試頂針可以向上推。當然,夾具背面還有一些接口,比如氣管接口,與上位機的通訊線接口等。


  ICT檢測設(shè)備測試內(nèi)容很多。不同的板子有不同的測試內(nèi)容。相同的點是以下三個測試項目,幾乎所有的板子測試都包含了。


  1:開路測試是測量被測電路板上預(yù)期會短路的元器件是否會因錯誤或缺少零件而形成開路。


  2:短路測試是對待測電路板上出現(xiàn)的意外短路現(xiàn)象進行測試。


  3:ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析,電阻、電容、電感等無源元件的測量。

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