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事前に登録された參照畫像と被検基板の検査畫像を高速で比較する検査裝置。
撮影範(fàn)囲が広く、W155*D210mm以下の基板を一度に撮影できます。
W310 * D210mm中型ボードの畫像は、二次畫像によっても取得できます。